-32300: transport error - HTTP status code was not 200
СССР
Государственный стандарт от 01 апреля 1983 года № ГОСТ 18683.2-83
ГОСТ 18683.2-83 (СТ СЭВ 3197-81) Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров (с Изменениями N 1, 2)
- Принят
- Государственным комитетом СССР по стандартам
11 апреля 1983 года
ГОСТ 18683.2-83
Группа Э29
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ЦИФРОВЫЕ
Методы измерения динамических электрических параметров
Digital integrated circuits. Methods of measuring dynamic electrical parameters
ОКП 62 3100
Дата введения 1984-01-01
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
1.УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11.04.83 N 1688
Изменение N 2 принято Межгосударственным Советом по стандартизации, метрологии и сертификации (протокол N 12 от 21.11.97)
Зарегистрировано Техническим секретариатом МГС N 2731
За принятие изменения проголосовали:
| | |
| Наименование государства | Наименование национального органа по стандартизации |
| Азербайджанская Республика | Азгосстандарт |
| Республика Армения | Армгосстандарт |
| Республика Беларусь | Госстандарт Беларуси |
| Грузия | Грузстандарт |
| Республика Казахстан | Госстандарт Республики Казахстан |
| Киргизская Республика | Киргизстандарт |
| Республика Молдова | Молдовастандарт |
| Российская Федерация | Госстандарт России |
| Республика Таджикистан | Таджикгосстандарт |
| Туркменистан | Главная государственная инспекция Туркменистана |
| Республика Узбекистан | Узгосстандарт |
| Украина | Госстандарт Украины |
2.ВЗАМЕН ГОСТ 18683-76 (в части п.3.11)
3.ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ
| | |
| Обозначение НТД, на который дана ссылка | Номер пункта |
| 18683.0-83 | Вводная часть |
4.Ограничение срока действия снято по протоколу N 3-93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 5-6-93)
5.ИЗДАНИЕ (февраль 2000 г.) с Изменениями N 1, 2, утвержденными в июле 1988 г., августе 1998 г. (ИУС 12-88, 11-98)
Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы (далее - микросхемы) и устанавливает методы измерения динамических электрических параметров микросхем.
Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 18683.0.
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).
якорь
1.ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ ВКЛЮЧЕНИЯ И ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ ВЫКЛЮЧЕНИЯ
1.1.Измерение следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт.1.
, - источники постоянного напряжения; - микросхема; - генератор импульсного напряжения; - измеритель динамических параметров; - эквивалент нагрузки
Черт.1
1.2.Подготовка к измерениям
1.2.1.Подготавливают измерительную установку к работе.
1.2.2.Подключают микросхему к измерительной установке.
1.3.Проведение измерений
1.3.1.Подают на микросхему напряжение питания от источника , входные постоянные напряжения от источника и входные импульсные напряжения от источника , значения которых установлены в стандартах или технических условиях (далее - ТУ) на микросхемы конкретных типов.
1.3.2.Интервал времени между входным и выходным импульсами измеряют в соответствии с черт.2 при значениях уровней отсчета , , , , указанных в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
1 - входное напряжение; 2 - выходное напряжение (инвертирующая микросхема); 3 - выходное напряжение (неинвертирующая микросхема); , , , - уровни отсчета; - время задержки включения; - время задержки выключения
Черт.2
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.4.Показатели точности измерения
1.4.1.Погрешность измерения времени задержки включения и времени задержки выключения должна быть в пределах:
±10% - для интегральных микросхем со средним временем задержки распространения 5 нс и более;
±15% - для интегральных микросхем со средним временем задержки распространения от 1,0 до 5,0 нс;
±20% - для интегральных микросхем со средним временем задержки распространения от 1,0 нс и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
1.4.2.Доверительную вероятность погрешности измерения выбирают из ряда: 0,950; 0,990; 0,997. Конкретное значение доверительной вероятности устанавливают в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
1.4.3.Границы интервала погрешности измерения времени задержки включения и времени задержки выключения определяют по формуле
где , , , - относительные коэффициенты влияния соответственно фронта, спада, высоты и длительности входного импульса на -м входе на измеряемый параметр;
, - относительные коэффициенты влияния уровня отсчета соответственно на входном и выходном импульсе на измеряемый параметр;
- относительный коэффициент влияния напряжения питания на -м выводе питания на измеряемый параметр;
- относительный коэффициент влияния постоянного напряжения на -м входе на измеряемый параметр;
- относительный коэффициент влияния параметра -го элемента нагрузки на измеряемый параметр;
- относительный коэффициент влияния температуры окружающей среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы на измеряемый параметр;
- относительный коэффициент влияния временной нестабильности сдвига входного импульса на -м входе относительно входного импульса на -м входе на измеряемый параметр;
, , , - относительные погрешности установления и поддержания соответственно фронта, спада, высоты и длительности входного импульса на -м входе;
, - относительная погрешность установления и поддержания уровня отсчета соответственно на входном и выходном импульсе;
- относительная погрешность установления и поддержания напряжения питания на -м выводе питания;
- относительная погрешность установления и поддержания постоянного напряжения на -м входе;
- относительная погрешность установления и поддержания параметра -го элемента нагрузки;
- относительная погрешность измерителя динамических параметров;
- относительная погрешность временной нестабильности фронта (спада) входного импульса;
- относительная погрешность установления и поддержания температуры окружающей среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы;
- относительная погрешность временной нестабильности сдвига входного импульса на -м входе относительно входного импульса на -м входе;
- относительная погрешность, обусловленная неучтенным -м источником погрешности;
, , , , , , , , , , , , , , - коэффициенты, зависящие от закона распределения соответствующей погрешности , , , , , , , , , , , , , , и доверительной вероятности;
- число выводов питания;
- число входов, на которые подают постоянное напряжение;
- число элементов нагрузки;
- число входов, на которые подают импульсное напряжение.
якорь
2.ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ПРИ ВКЛЮЧЕНИИ И ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ПРИ ВЫКЛЮЧЕНИИ
2.1.Аппаратура - по п.1.1.
2.2.Подготовка к измерениям - по п.1.2.
2.3.Проведение измерений
2.3.1.Подают на микросхему напряжения питания от источника входные постоянные напряжения от источника , входные импульсные напряжения от источника , значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
2.3.2.Интервал времени между входным и выходным импульсами измеряют в соответствии с черт.3 при значениях уровней отсчета , , указанных в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
1 - входное напряжение; 2 - выходное напряжение (инвертирующая микросхема); 3 - выходное напряжение (неинвертирующая микросхема); , - уровни отсчета; - время задержки распространения сигнала при включении; - время задержки распространения сигнала при выключении
Черт.3
(Измененная редакция, Изм. N 1).
2.3.3.(Исключен, Изм. N 1).
2.4.Показатели точности измерения - по п.1.4.
3.ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ПЕРЕХОДА ПРИ ВКЛЮЧЕНИИ И ВРЕМЕНИ ПЕРЕХОДА ПРИ ВЫКЛЮЧЕНИИ
3.1.Аппаратура - по п.1.1.
3.2.Подготовка к измерениям - по п.1.2.
3.3.Проведение измерений
3.3.1.На микросхему подают напряжения питания от источника , входные постоянные напряжения от источника и входные импульсные напряжения от источника , значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
3.3.2.Интервал времени измеряют в соответствии с черт.4 между моментами достижения выходным напряжением уровней отсчета , , значения которых указаны в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
1 - входное напряжение; 2 - выходное напряжение (инвертирующая микросхема); 3 - выходное напряжение (неинвертирующая микросхема); , - уровни отсчета; - время перехода при включении; - время перехода при выключении
Черт.4
(Измененная редакция, Изм. N 1).
3.4.Показатели точности измерения
3.4.1.Погрешность измерения времени перехода при включении и времени перехода при выключении - по п.1.4.1.
3.4.2.Доверительная вероятность погрешности измерения - по п.1.4.2.
3.4.3.Границы интервала погрешности измерения времени перехода при включении (времени перехода при выключении) определяют по формуле
где , - относительные коэффициенты влияния фронта (спада) выходного импульса соответственно в 1 и 2-й точках отсчета на измеряемый параметр;
, - относительная погрешность установления и поддержания уровня отсчета на выходном импульсе соответственно в 1 и 2-й точках отсчета на измеряемый параметр;
, - коэффициенты, зависящие от закона распределения соответствующих погрешностей , и доверительной вероятности;
остальные обозначения - см. формулу (1).
якорь
4.ИЗМЕРЕНИЕ МАКСИМАЛЬНОЙ ТАКТОВОЙ ЧАСТОТЫ
4.1.Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт.5.
- генератор импульсного напряжения; , - источники постоянного напряжения; - микросхема; - эквивалент нагрузки; - измеритель частоты
Черт.5
4.2.Подготовка к измерениям - по п.1.2.
4.3.Проведение измерений
4.3.1.Подают на микросхему напряжения питания от источника , входные постоянные напряжения от источника и входные импульсные напряжения от источника , значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
4.3.2.Измеряют частоту следования импульсов на выходе микросхемы, при которой обеспечивается функционирование микросхемы в соответствии с требованиями, установленными в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
4.4.Максимальную тактовую частоту определяют по формуле
,
где - частота следования импульсов на выходе генератора;
- частота следования импульсов на выходе микросхемы;
- целое число, указанное в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
4.5.Показатели точности измерения
4.5.1.Погрешность измерения максимальной тактовой частоты - по п.1.4.1.
4.5.2.Доверительная вероятность погрешности измерения максимальной тактовой частоты - по п.1.4.2.
4.5.3.Границы интервала погрешности измерения максимальной тактовой частоты определяют по формуле
где обозначения - см. формулу (1).
якорь
5.ИЗМЕРЕНИЕ ДИНАМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, ХАРАКТЕРИЗУЮЩИХ ВРЕМЯ ВЫПОЛНЕНИЯ ФУНКЦИИ МИКРОСХЕМОЙ
5.1.Методы измерения динамических параметров, характеризующих время выполнения микросхемой функции (время выборки, время выборки адреса, время выборки разрешения, время восстановления и т.п.), должны соответствовать указанным в разд.1 и 2.
Конкретный метод измерения устанавливают в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
якорь
6.ИЗМЕРЕНИЕ ДИНАМИЧЕСКОГО ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ
6.1.Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт.6.
, - источники постоянного напряжения; - генератор импульсного напряжения; - измеритель постоянного тока; - микросхема
Черт.6
Примечание. Допускается при измерении к выходу микросхемы подключать нагрузку.
6.2.Подготовка к измерениям - по п.1.2. Измеритель постоянного тока должен быть таким, чтобы с его помощью можно было измерить средний суммарный ток.
6.3.Проведение измерений
6.3.1.Подают на микросхему напряжение питания от источника , входные постоянные напряжения от источника , входные импульсные напряжения от источника , значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
6.3.2.Измеряют ток измерителем РА.
6.4.Показатели точности измерения
6.4.1.Погрешность измерения динамического тока потребления должна быть в пределах ±5% и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
6.4.2.Доверительная вероятность погрешности измерения - по п.1.4.2.
6.4.3.Границы интервала погрешности измерения динамического тока потребления определяют по формуле
(4)
где - относительный коэффициент влияния частоты повторения входных импульсов на измеряемый параметр;
- относительная погрешность установления и поддержания частоты повторения входных импульсов;
- относительная погрешность измерителя постоянного тока;
, , - коэффициенты, зависящие от закона распределения соответствующей погрешности , , и доверительной вероятности;
остальные обозначения - см. формулу (1).
Раздел 6.(введен дополнительно, изм. № 2).