Термин | Определение |
ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ПРОФИЛЯ |
1. Преобразование профиля Е. Profile transformation F. Transformation du profil | Действие или операция, преднамеренно или непреднамеренно изменяющие информацию о профиле на любой стадии измерения. |
| Примечание. Например, при огибании профиля щупом, фильтровании, записи и т.д. |
2. Преобразованный профиль Е. Transformed profile F. Profil | Профиль, получаемый в результате его преобразования |
3. Преднамеренное преобразование профиля Е. Intentional profile transformation | Преобразование профиля, проводимое для измерения в соответствии с установленными требованиями. |
F. Transformation volontaire du profil | Примечание. Например, подавление низкочастотных гармоник в спектре профиля путем фильтрования для выделения коротковолновой части профиля, которая при измерении рассматривается как шероховатость |
4. Непреднамеренное преобразование профиля Е. Unintentional profile transformation F. Transformation involontaire du profil | Преобразование профиля, возникающее из-за несовершенства измерительной аппаратуры или отдельных ее частей и обычно проявляющееся в виде искажений информации о профиле. |
| Примечание. Например, искажение информации о профиле при огибании его щупом с конечным радиусом вершины |
5. Ощупанный профиль Е. Traced profile F. Profil | Преобразованный профиль, представляющий собой геометрическое место положений центра вершины щупа при огибании им реального профиля. |
| Примечания: 1. Для контактного щупа за центр его вершины принимают любую точку рабочей вершины. |
| 2. Для бесконтактного оптического щупа за центр его вершины принимается центр сферы, у которой диаметр равен диаметру сфокусированного пятна на поверхности |
6. Модифицированный профиль Е. Modified profile F. Profil | Преднамеренно преобразованный профиль, получаемый в результате воздействия фильтрующей системы, применяемой для выделения той части спектра реального профиля, которая должна быть учтена при измерении параметров шероховатости поверхности |
7. Измеренный профиль Е. Measured profile F. Profil | Профиль, полученный в результате измерения |
8. Шаг дискретизации профиля по длине Е. Profile sampling interval F. Pas de du profil | Расстояние между соседними дискретными ординатами профиля при измерении параметров поверхности цифровыми методами (см. черт.1) |
Черт.1 |
9. Шаг квантования профиля по уровню Е. Profile quantization step F. Pas de quantification du profil | Расстояние между соседними отсчетами при измерении значения каждой ординаты профиля цифровыми методами (черт.1). |
| Примечание. Значение ординаты профиля округляется при дискретном измерении целого числа шагов квантования |
| , , |
| где - значение ординаты профиля, полученное при дискретном измерении; |
| - шаг квантования профиля по уровню; |
| - функция (оператор) выделения целой части числа; |
| - истинное значение ординаты профиля; |
| - целое число шагов квантования в данной ординате профиля |
10. Идеальный оператор Е. Ideal operator F. ideal | Алгоритм или процедура, которые предполагают исходное, теоретически точное определение параметров или характеристик поверхности (см. черт.2) |
Черт.2 |
11. Оптимальный оператор Е. Optimum operator F. optimal | Алгоритм или процедура, принятые для практического определения параметров или характеристик поверхности с приемлемыми затратами (черт.2) |
12. Реальный оператор Е. Real operator F. | Практически реализованный оптимальный оператор. |
| Примечание. Реальный оператор отличается от оптимального оператора погрешностью изготовления прибора или изменением характеристик в течение времени (черт.2) |
13. Методическая погрешность Е. Method error F. Erreur due la | Разность между значением параметра поверхности, определенного в соответствии с оптимальным оператором и истинным значением этого же параметра, определенным в соответствии с идеальным оператором (черт.2) |
14. Методическое расхождение Е. Method divergence F. Divergence entre | Различия, возникающие в результате применения разных оптимальных операторов для получения одного и того же значения данного параметра (черт.2) |
15. Погрешность прибора Е. Instrument error F. Erreur de l'instrument | Разность между значением параметра поверхности, определенным реальным оператором, и значением этого же параметра, определенным оптимальным оператором (черт.2) |
16. Полная погрешность прибора Е. Total instrument error F. Erreur total d'instrument | Разность между значением параметра поверхности, определенным в соответствии с реальным оператором, и истинным значением этого же параметра, определенным в соответствии с идеальным оператором. |
| Примечание. Такая погрешность включает методическую погрешность и погрешность прибора (черт.2) |
17. Основная погрешность профилометра Е. Basic error of a profile meter reading F. Erreur de base des indications du | Полная погрешность профилометра, определенная при нормальных условиях, включающих стандартное входное воздействие на измерительный преобразователь прибора |
СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЯ |
18. Профильный метод измерения шероховатости поверхности Е. Profile method of measurement of the surface roughness F. du profil pour le mesurage de la des surfaces | Метод оценки шероховатости поверхности по параметрам ее преобразованных профилей |
19. Аппаратура для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом | Приборы, позволяющие определить параметры шероховатости поверхности по ее преобразованным профилям |
Е. Instrument for the measurement of surface roughness by the profile method | |
F. Instrument de de la des surfaces par la du profil | |
20. Контактный прибор последовательного преобразования профиля Е. Contact instrument of consecutive profile transformation F. Instrument avec contact, transformation consecutive du profil | Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с последовательным преобразованием информации о профиле при механическом ощупывании измеряемой поверхности щупом |
21. Бесконтактный прибор последовательного преобразования профиля Е. Contactless instrument of consecutive profile transformation F. Instrument sans contact, transformation du profil | Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с последовательным преобразованием информации о профиле без механического взаимодействия с измеряемой поверхностью |
22. Ощупывающая система прибора Е. Traversing system of an instrument F. de palpage d'un instrument | Узел прибора последовательного преобразования профиля, предназначенный для первичного преобразования информации об измеряемой поверхности, состоящей из датчика и системы его перемещения относительно измеряемой поверхности |
23. Ощупывающая система прибора с зависимой опорой Е. Traversing system of an instrument with skid-dependent datum F. de palpage avec patin d'un instrument | Ощупывающая система прибора, в которой датчик опирается на измеряемую поверхность, так что эта поверхность, действуя на опору датчика, оказывает влияние на траекторию его перемещения относительно поверхности |
24. Ощупывающая система прибоpa с независимой опорой Е. Traversing system of an instrument with the external reference datum F. de palpage avec reference independante d'un instrument | Ощупывающая система прибора, в которой датчик не опирается на измеряемую поверхность и перемещается независимо, сохраняя ориентацию постоянной, что достигается путем перемещения датчика по внешней базе, так что измеряемая поверхность не действует на датчик и не оказывает влияния на траекторию его перемещения относительно поверхности |
25. Контактный прибор одновременного преобразования профиля Е. Contact instrument of instantaneous profile transformation F. Instrument avec contact, transformation du profil | Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с одновременным преобразованием информации о профиле при механическом взаимодействии с измеряемой поверхностью |
26. Бесконтактный прибор одновременного преобразования профиля Е. Contactless instrument of instantaneous profile transformation F. Instrument sans contact, transformation du profil | Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с одновременным преобразованием информации о профиле без механического взаимодействия с измеряемой поверхностью |
27. Профилометр Е. Profile meter F. | Прибор для измерения параметров шероховатости, показывающий значения этих параметров или обеспечивающий их регистрацию |
28. Профилометр с постоянной длиной трассы ощупывания при измерении Е. Profile meter with predetermined traversing length F. longueur d'exploration constante | Профилометр, измеряющий параметр шероховатости поверхности на отрезке длины, начало и конец которого зафиксированы ограничителями. Примечание. Профилометры этого типа обычно показывают и удерживают значение измеряемого параметра, полученное в конце указанного отрезка длины |
29. Профилограф Е. Profile recording instrument F. Enregistreur | Прибор для регистрации и измерения координат профиля поверхности в любой форме |
ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ |
30. Вертикальное увеличение прибора Е. Vertical magnification of a profile recording instrument F. Grossissement vertical d'un | Масштаб преобразования координат профиля в направлении перемещения щупа, перпендикулярном к поверхности |
31. Горизонтальное увеличение прибора Е. Horizontal magnification of a profile recording instrument F. Grossissement horizontal d'un | Масштаб преобразования координат профиля в направлении перемещения щупа вдоль поверхности. Примечание. Под масштабом преобразования понимают отношение регистрируемой величины к перемещению щупа в соответствующем направлении. Применительно к профилограмме - отношение движения пера или носителя к перемещению щупа в соответствующем направлении |
32. Относительная погрешность вертикального увеличения прибора Е. Relative error of vertical magnification of an instrument F. Erreur relative du grossissement vertical d'un | Разность между действительным и номинальным значениями вертикального увеличения прибора, отнесенная к номинальному значению и выраженная в процентах |
33. Относительная погрешность горизонтального увеличения прибора Е. Relative error of horizontal magnification of an instrument F. Erreur relative du grossissement horizontal d'un | Разность между действительным и номинальным значениями горизонтального увеличения прибора, отнесенная к номинальному значению и выраженная в процентах |
34. Статическое измерительное усилие Е. Static measuring force F. Effort statique de mesurage | Усилие воздействия щупа вдоль его оси на контролируемую поверхность, без учета динамических составляющих, возникающих в процессе ощупывания |
35. Постоянная изменения измерительного усилия Е. Rate of change of the static measuring force F. Taux de variation de l'effort statique de mesure | Изменение на единицу перемещения статического измерительного усилия, действующего на щуп вдоль оси |
36. Длина трассы ощупывания Е. Traversing length F. Longueur d'exploration | Полная длина участка поверхности, в пределах которого расположен профиль измеряемой поверхности, ощупанный прибором при измерении (см. черт.3) |
Длина трассы ощупывания - длина участка предварительного хода датчика; - длина участка измерения; - длина участка завершающего хода датчика Черт.3 |
37. Длина участка измерения E. Measuring length F. Longueur de mesure | Часть длины трассы ощупывания, в пределах которой находится профиль, параметры которого подлежат измерению |
| Примечание. Длина участка измерения равна длине оценки |
38. Отсечка шага E. Cut-off F. Longueur d'onde de coupure | Длина волны , численно равная базовой длине и условно принимаемая в качестве верхней границы пропускания профилометра, для которой установлен определенный коэффициент пропускания. |
| Примечания: 1. Для аналоговых электрических фильтров он равен 75%. 2. Указанная верхняя граница условно отделяет номинально пропускаемые от номинально подавляемых компонентов спектра профиля |