Название метода | Область применения | Факторы, ограничивающие область применения | Контролируемые параметры | Чувстви- тельность | Погреш- ность, % |
Визуальный | Дефектоскопия, контроль формы | Диапазон длин волн должен быть 0,38-0,76 мкм | Дефектность, отклонение от заданной формы | 0,1 мм | - |
Визуально- оптический | Дефектоскопия с помощью микроскопов, стереоскопия, размерный контроль с помощью проекционных устройств, эндоскопия внутренних поверхностей, интроскопия | Минимальная яркость изображения объекта контроля не менее 1 кд/м | Размеры изделий, дефектов, отклонения от заданной формы | | 0,1-1,0 |
Интерферо- метрический | Оптическая толщинометрия, контроль формы полированных изделий, анализ шероховатости | Применим только для полированных поверхностей | Сферичность, плоскостность, толщина | | 0,1 |
Дифракци- онный | Контроль размеров тонких волокон, формы острых кромок, структуры | Размеры дефектов должны быть сравнимы с длиной волны света | Диаметры волокон, размеры дефектов, острых кромок | | 1,0 |
Поляризаци- онный | Контроль напряжений в прозрачных средах методом фотоупругости, анализ степени поляризации источников света, эллипсометрическая толщинометрия | Применим только для оптически прозрачных сред | Вращение плоскости поляризации двулучепреломление, толщина | | 1,0 |
Фазово- контрастный | Контроль оптической неоднородности прозрачных сред | Применим только для оптически прозрачных сред | Градиент показателя преломления | | 0,01 |
Рефракто- метрический | Дисперсионный контроль оптических сред, измерение концентрации растворов | Применим только для оптически прозрачных сред | Показатель преломления | | 0,01 |
Рефлексо- метрический | Контроль шероховатости поверхности изделий, измерение блеска и глянца | Коэффициент отражения должен быть не менее 1% | Коэффициент отражения, индикатрисса отражения | | 1,0 |
Денсито- метрический | Анализ оптической плотности светофильтров, прозрачных пленок | Применим для нерассеивающих прозрачных сред | Оптическая плотность, коэффициент пропускания | | 1,0 |
Спектраль- ный | Контроль спектральных характеристик изделий в отраженном и проходящем свете, анализ состава газовых смесей, жидкостей, твердых веществ | - | Спектральные коэффициенты отражения, поглощения, пропускания, концентрация вещества | | 1,0 |
Колоримет- рический | Анализ цвета изделий | Наличие источников посторонней засветки | Координаты цвета | 100,0 мкм | 1,0 |
Нефеломет- рический | Анализ структуры кристаллов, стекол, растворов, газов, гранулометрия | - | Индикатрисса рассеяния, коэффициенты рассеяния, концентрация объемных включений | | 1,0 |
Стробоско- пический | Дефектоскопия и размерный контроль подвижных объектов | - | Угловая скорость | с | 5,0 |
Фотометри- ческий | Измерение характеристик источников оптического излучения | - | Яркость Освещенность | кд/м лк | 5,0 |
Голографи- ческий | Контроль геометрии объектов сложной формы, однородности оптических сред | Малая когерентность лазера, вибрации | Деформации, перемещения, отклонение от заданной формы, градиенты показателя преломления | | 1,0 |
Телевизи- онный | Электронно-оптический анализ структуры веществ, измерение линейных размеров | - | Гранулометрические характеристики, размеры дефектов | | 1,0 |
Термин | Пояснение |
Оптический неразрушающий контроль | Определение по ГОСТ 24521-80 |
Дефект | Определение по ГОСТ 15467-79 |
Разрешающая способность аппаратуры | Наименьшее расстояние между точками объекта, раздельно регистрируемыми устройством контроля, выраженное в линейной или угловой мере |
Поле зрения аппаратуры | Область объекта, в которой производится контроль и которая измеряется в линейной или угловой мере |
Чувствительность | Минимальное изменение размеров, формы, пространственного положения контролируемого объекта, минимальный размер (ширина, глубина, длина) выявляемого дефекта, минимальное изменение эквивалентного параметра, характеризующего структуру или физико-химические свойства контролируемого объекта, которые с заданной вероятностью обнаруживаются в данных условиях при использовании аппаратуры |